優(yōu)科長(zhǎng)期致力于為國內(nèi)外電子元器件企業(yè)提供高效可靠的產(chǎn)品檢測(cè)、失效分析、產(chǎn)品認(rèn)證和技術(shù)服務(wù)。同時(shí)積極參與相關(guān)領(lǐng)域標(biāo)準(zhǔn)制定和專業(yè)檢測(cè)設(shè)備研發(fā)，人員、設(shè)備和資質(zhì)全方位布建，充分滿足客戶產(chǎn)品在國標(biāo) 、GJB、美標(biāo)、IEC標(biāo)準(zhǔn)、行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)等各種標(biāo)準(zhǔn)體系的檢測(cè)和認(rèn)證需求。
優(yōu)科依托中科院微電子研究所、武漢華中科技大學(xué)、中山大學(xué)集成電路國家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室、西北工業(yè)大學(xué)、湖大汽車新材料研究院等科研院校力量組建專業(yè)技術(shù)團(tuán)隊(duì)；自主進(jìn)行檢測(cè)設(shè)備研發(fā)，獲得了6項(xiàng)發(fā)明專利、30項(xiàng)實(shí)用新型專利；參與制定了9項(xiàng)國家標(biāo)準(zhǔn)、6項(xiàng)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)、10項(xiàng)團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)、2項(xiàng)UL標(biāo)準(zhǔn)、6項(xiàng)企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。在AEC-Q100/AEC-Q200檢測(cè)、芯片/集成電路測(cè)試、DPA失效分析、電子元器件替代解決方案、電子元器件篩選、智能控制及軟件測(cè)試、電子元器件安規(guī)認(rèn)證領(lǐng)域具備核心競(jìng)爭(zhēng)力。
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