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文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測 發(fā)表時間：2022-08-22 瀏覽數(shù)量：
元器件二次篩選是指已采購的元器件在“一次篩選”試驗沒有滿足使用方規(guī)定的項目要求的技術(shù)條件時，由使用方進行的篩選。二極管屬于半導體分立器件，二極管做二次篩選主要依據(jù)以下程序進行試驗：
二極管二次篩選(補充篩選)程序
| 序 號 | 篩 選 項 目 | 方 法 GJB128A | 篩選條件或測量參數(shù) | 說 明 | ||
| Ⅰ | Ⅱ | Ⅲ | ||||
| 1 | 編序列號 1) | |||||
| 2 | 電參數(shù)測試(室溫) 普通、開關(guān)、整流二極管 電壓調(diào)整、電壓基準二極管 | — | VF 、 VR 或 I R VF 、 I Z 、 I R | 測量參數(shù)及合格標準按詳細規(guī)范或產(chǎn)品手冊規(guī)定 | ||
| 3 | 溫度循環(huán) | 1051 | 條件： B；循環(huán) 5 次 | 玻封器件轉(zhuǎn)換時間為不大于 5min | ||
| 4 | 恒定加速度 | 2006 | Y1 方向、 196000m/s2； I F ≥10A 的器件 98000m/s2 | 無空腔的器件不要求 LTPD=5；不通過時全檢 | ||
| 5 | 外觀及機械檢查 | 2071 | 用 10 倍放大鏡或顯微鏡 | 可在篩選開始時增加一次 | ||
| 6 | 粒子碰撞噪聲檢測(PIND) | 2052 | 試驗條件： A | — | LTPD 二 10；不通過時全檢 | |
| 7 | 高溫反偏(HTRB) 僅適用于開關(guān)二極管 | 1038 | 反偏溫度： 125±2℃ 反偏電壓： 0.75VR | 高溫反偏時間為表列時間減去生產(chǎn)方已進行的高溫反偏時間，但不得少于 24h | ||
| 96h | 72h | 48h | ||||
| 8 | 老練前電參數(shù)測試 (室溫) | 同序號 2 | ||||
| 9 | 老練(室溫)2) | 1038 | 試驗條件： B | 老練時間為表列時間減去生產(chǎn)方已進行的老練時間，但不得少于48h | ||
| 240h | 160h | 96h | ||||
| 10 | 老練后電參數(shù)測試(室溫) | 同序號 2，對合同或詳細規(guī)范要求的參 數(shù)計算其Δ值計算不合格品率。 | Ⅰ級 PDA≤5%(或1只取大值)； Ⅱ級 PDA≤10%(或1只取大值)；Ⅲ級 PDA≤15%(或1只取大值)。 | |||
| 11 | 電參數(shù)測試(高溫) | 同序號 2：溫度按合同或詳細規(guī)范規(guī)定 | LTPD＝10；不通過時全檢 | |||
| 12 | 電參數(shù)測試(低溫) | 同序號 2：溫度按合同或詳細規(guī)范規(guī)定 | LTPD＝10；不通過時全檢 | |||
| 13 | 密封 a.細檢漏 b.粗檢漏 | 1071 | a.試驗條件：： G 或 H b.試驗條件：： A、 C、或 F | 無空腔的器件不要求： 內(nèi)腔體積大于 1cm3 僅要求做粗檢漏 | ||
| 14 | 外觀及機械檢查 | 2071 | 用 10 倍放大鏡或顯微鏡 | |||
注：1）當要求計數(shù)器件電參數(shù)的Δ值時應編號。
2）I F ＞1A 的器件可按規(guī)定加散熱器老練, 也可不加散熱器按峰值結(jié)溫老練。
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