AECQ101和102是車(chē)用分立半導(dǎo)體元器件AEC-Q車(chē)規(guī)認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)，優(yōu)科檢測(cè)是專業(yè)第三方AEC-Q車(chē)規(guī)級(jí)電子元器件認(rèn)證機(jī)構(gòu)，實(shí)驗(yàn)室具備AEC-Q101和AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)CNAS全項(xiàng)測(cè)試資質(zhì)和CNCA發(fā)證能力，接下來(lái)為大家介紹AECQ101和102的區(qū)別。

AECQ101和102的區(qū)別

AECQ101和102的適用對(duì)象、樣本量、失效依據(jù)、高溫工作試驗(yàn)條件、溫度循環(huán)試驗(yàn)條件、高溫高濕試驗(yàn)條件、功率溫度循環(huán)試驗(yàn)條件、DPA抽樣方式、熱阻試驗(yàn)方法均存在區(qū)別，接下來(lái)為大家介紹主要區(qū)別。

1. 適用對(duì)象區(qū)別

AEC-Q101適用對(duì)象：車(chē)用分立半導(dǎo)體元器件

晶體管：BJT、MOSFET、IGBT；

二極管：Diodes、Rectifier、Zeners、PIN、Varactors。

AEC-Q102適用對(duì)象：車(chē)用分立光電半導(dǎo)體元器件

光器件：Light Emitting Diodes、Optocoupler、Laser Components、Photodiodes、Phototransistors。

2. 所需樣品數(shù)量區(qū)別

AEC-Q101所需樣品數(shù)量：

環(huán)境應(yīng)力試驗(yàn)：3lot×77pcs/lot

LTPD(Lot Tolerance Percent Defective) = 1, 90%置信度的失效率為1%

AEC-Q102所需樣品數(shù)量：

環(huán)境應(yīng)力試驗(yàn)：3lot×26pcs/lot

LTPD (Lot Tolerance Percent Defective) = 3, 90%置信度的失效率為3%

3. 失效判據(jù)區(qū)別

AEC-Q101失效判據(jù)：

- 不符合規(guī)格書(shū)規(guī)定的電學(xué)和光學(xué)參數(shù)范圍；

- 環(huán)境試驗(yàn)前后參數(shù)值變化未保持在±20%以內(nèi)；

- 漏電未保持在5倍初始值以內(nèi)（對(duì)于濕氣試驗(yàn)為10倍）；

- 由于環(huán)境試驗(yàn)出現(xiàn)物理?yè)p壞；

- 如果失效原因被供應(yīng)商和用戶認(rèn)為是由于處理不當(dāng)或ESD的原因引起，這些失效可以被忽略，但應(yīng)呈現(xiàn)在報(bào)告中。

AEC-Q101失效判據(jù)：

- 不符合規(guī)格書(shū)規(guī)定的電學(xué)和光學(xué)參數(shù)范圍；

- 環(huán)境試驗(yàn)前后參數(shù)值變化未保持在附錄5規(guī)定的±x%以內(nèi)；

- 由于環(huán)境試驗(yàn)出現(xiàn)物理?yè)p壞（遷移、腐蝕、機(jī)械破壞、分層等）；

- 有些物理?yè)p壞可能由供應(yīng)商和用戶同意認(rèn)為僅僅是外觀不良而不影響認(rèn)證結(jié)果；

- 如果失效原因被供應(yīng)商和用戶認(rèn)為是由于處理不當(dāng)、測(cè)試板連接、ESD或其它跟測(cè)試條件無(wú)關(guān)的原因引起，這些失效可以被忽略，但應(yīng)呈現(xiàn)在報(bào)告中。

優(yōu)科檢測(cè)是專業(yè)第三方AEC-Q認(rèn)證機(jī)構(gòu)，實(shí)驗(yàn)室具備AEC-Q100/101/102/103/104/200標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)資質(zhì)和CNCA發(fā)證能力，可提供車(chē)規(guī)級(jí)集成電路、分立半導(dǎo)體器件、光電半導(dǎo)體器件、傳感器、被動(dòng)元件等汽車(chē)電子元件AEC-Q檢測(cè)認(rèn)證服務(wù)。我們可依據(jù)產(chǎn)品使用條件和質(zhì)量指標(biāo)，定義符合汽車(chē)電子質(zhì)量要求的測(cè)試計(jì)劃，助力客戶快速進(jìn)入汽車(chē)電子市場(chǎng)。