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文章來(lái)源 : 廣東優(yōu)科檢測(cè) 發(fā)表時(shí)間：2023-09-05 瀏覽數(shù)量：
AEC即Automotive Electronics Council，是美國(guó)汽車(chē)電子委員會(huì)的簡(jiǎn)稱(chēng)。AEC由克萊斯勒，福特和通用汽車(chē)發(fā)起并創(chuàng)立于1994年，目前會(huì)員遍及全球各大汽車(chē)廠、汽車(chē)電子和半導(dǎo)體廠商，符合AEC規(guī)范的零部件均可被上述三家車(chē)廠同時(shí)采用，促進(jìn)了零部件制造商交換其產(chǎn)品特性數(shù)據(jù)的意愿，并推動(dòng)了汽車(chē)零件通用性的實(shí)施，為汽車(chē)零部件市場(chǎng)的快速成長(zhǎng)打下基礎(chǔ)。AEC-Q為AEC組織所制訂的車(chē)用可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，是零件廠商進(jìn)入汽車(chē)電子領(lǐng)域，打入一級(jí)車(chē)廠供應(yīng)鏈的重要門(mén)票。
AEC-Q100是AEC的第一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)，主要是針對(duì)車(chē)載應(yīng)用的集成電路產(chǎn)品所設(shè)計(jì)出的一套應(yīng)力測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，此規(guī)范對(duì)于提升產(chǎn)品信賴性品質(zhì)保證相當(dāng)重要。AEC-Q100是預(yù)防可能發(fā)生各種狀況或潛在的故障狀態(tài)，對(duì)每一個(gè)芯片進(jìn)行嚴(yán)格的質(zhì)量與可靠度確認(rèn)，特別對(duì)產(chǎn)品功能與性能進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范測(cè)試。
車(chē)用一次性內(nèi)存、電源降壓穩(wěn)壓器、車(chē)用光電耦合器、三軸加速規(guī)傳感器、視訊譯碼器、整流器、環(huán)境光傳感器、非易失性鐵電存儲(chǔ)器、電源管理IC、嵌入式閃存、DC/ DC穩(wěn)壓器、車(chē)規(guī)網(wǎng)絡(luò)通訊設(shè)備、液晶驅(qū)動(dòng)IC、單電源差動(dòng)放大器、電容接近式開(kāi)關(guān)、高亮度LED驅(qū)動(dòng)器、異步切換器、600V IC、GPS IC、ADAS高級(jí)駕駛員輔助系統(tǒng)芯片、GNSS接收器、GNSS前端放大器。
| 優(yōu)科能力范圍及 AEC-Q100 技術(shù)要求 | |||
| 序號(hào) | 測(cè)試項(xiàng)目 | 縮寫(xiě) | 檢測(cè)方法 |
| A組 加速環(huán)境應(yīng)力測(cè)試 | |||
| A1 | 預(yù)處理 | PC | J-STD-020 JESD22-A113 |
| A2 | 有偏溫濕度或有偏高加速應(yīng)力測(cè)試 | THB/HAST | JESD22-A101 JESD22-A110 |
| A3 | 高壓或無(wú)偏高加速應(yīng)力測(cè)試或無(wú)偏溫濕度測(cè)試 | AC/ UHST /TH | JESD22-A102 JESD22-A118 JESD22-A101 |
| A4 | 溫度循環(huán) | TC | JESD22-A104 和附錄3 |
| A5 | 功率負(fù)載溫度循環(huán) | PTC | JESD22-A105 |
| A6 | 高溫儲(chǔ)存壽命測(cè)試 | HTSL | JESD22-A103 |
| B 組 加速壽命模擬測(cè)試 | |||
| B1 | 高溫工作壽命 | HTOL | JEDEC JESD22-A108 |
| B2 | 早期壽命失效率 | ELFR | AEC-Q100-008 |
| B3 | 非易失性存儲(chǔ)器耐久 | EDR | AEC-Q100-005 |
| C 組 封裝組合完整性測(cè)試 | |||
| C1 | 綁線剪切 | WBS | AEC-Q100-001 |
| C2 | 綁線拉力 | WBP | MIL-STD 883 Method2011 |
| C3 | 可焊性 | SD | JESD22-B102 |
| C4 | 物理尺寸 | PD | JESD22-B100 JESD22-B108 |
| C5 | 錫球剪切 | SBS | AEC-Q100-010 |
| C6 | 引腳完整性 | LI | JESD22-B105 |
| D 組 芯片晶元可靠度測(cè)試 | |||
| D1 | 電遷移 | EM | / |
| D2 | 經(jīng)時(shí)介質(zhì)擊穿 | TDDB | / |
| D3 | 熱載流子注入 | HCI | / |
| D4 | 負(fù)偏壓溫度不穩(wěn)定性 | NBTI | / |
| D5 | 應(yīng)力遷移 | SM | / |
| E 組 電氣特性確認(rèn)測(cè)試 | |||
| E1 | 應(yīng)力測(cè)試前后功能參數(shù)測(cè)試 | TEST | 規(guī)格書(shū) |
| E2 | 靜電放電(HBM) | HBM | AEC-Q100-002 |
| E3 | 靜電放電 (CDM) | CDM | AEC-Q100-011 |
| E4 | 閂鎖效應(yīng) | LU | AEC-Q100-004 |
| E5 | 電分配 | ED | AEC-Q100-009 |
| E6 | 故障等級(jí) | FG | AEC-Q100-007 |
| E7 | 特性描述 | CHAR | AEC-Q003 |
| E9 | 電磁兼容 | EMC | SAE 1752/3 |
| E10 | 短路特性描述 | SC | AEC-Q100-012 |
| E11 | 軟誤差率 | SER | JESD89-1 JESD89-2 JESD89-3 |
| E12 | 無(wú)鉛 (Pb) | LF | AEC-Q005 |
| F組 缺陷篩選測(cè)試 | |||
| F1 | 過(guò)程平均測(cè)試 | PAT | AEC-Q001 |
| F2 | 統(tǒng)計(jì)良率分析 | SBA | AEC-Q002 |
| G 組 腔體封裝完整性測(cè)試 | |||
| G1 | 機(jī)械沖擊 | MS | JESD22-B104 |
| G2 | 變頻振動(dòng) | VFV | JESD22-B103 |
| G3 | 恒加速 | CA | MIL-STD-883 Method2001 |
| G4 | 粗細(xì)氣漏測(cè)試 | GFL | MIL-STD-883 Method1014 |
| G5 | 包裝跌落 | DROP | / |
| G6 | 蓋板扭力測(cè)試 | LT | MIL-STD-883 Method2024 |
| G7 | 芯片剪切 | DS | MIL-STD-883 Method2019 |
| G8 | 內(nèi)部水汽含量測(cè)試 | IWV | MIL-STD-883 Method1018 |
優(yōu)科檢測(cè)是專(zhuān)業(yè)第三方AEC-Q100認(rèn)證機(jī)構(gòu)，實(shí)驗(yàn)室具備AEC-Q100標(biāo)準(zhǔn)CNAS全項(xiàng)檢測(cè)資質(zhì)和CNCA發(fā)證能力，可提供IC集成電路AEC-Q100認(rèn)證服務(wù)。我們有眾多集成電路測(cè)試專(zhuān)家和豐富的實(shí)驗(yàn)設(shè)備，致力于幫助您的產(chǎn)品滿足AEC-Q100標(biāo)準(zhǔn)要求。我們提供具有差異性的高附加值服務(wù)，并以最短的項(xiàng)目交付時(shí)間滿足您與IC產(chǎn)品相關(guān)的各種測(cè)試、檢驗(yàn)、認(rèn)證和保障需求。
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