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文章來(lái)源 : 廣東優(yōu)科檢測(cè) 發(fā)表時(shí)間：2023-11-07 瀏覽數(shù)量：
AEC-Q200認(rèn)證的環(huán)境試驗(yàn)條件，主要是依據(jù)MIL-STD-202與JEDEC22A-104規(guī)范來(lái)制定的，不同的零件除了試驗(yàn)溫度不一樣之外，其施加電源（電壓、電流、負(fù)載）要求也會(huì)有所不同，高溫儲(chǔ)存屬于不施加偏壓與負(fù)載的環(huán)境試驗(yàn)。
優(yōu)科檢測(cè)是專(zhuān)業(yè)第三方AEC-Q200認(rèn)證機(jī)構(gòu)，實(shí)驗(yàn)室具備AEC-Q200標(biāo)準(zhǔn)CNAS全項(xiàng)檢測(cè)資質(zhì)和CNCA發(fā)證能力，接下來(lái)為大家介紹AEC-Q200認(rèn)證高溫儲(chǔ)存試驗(yàn)要求。
電子及電氣元件試驗(yàn)方法 MIL-STD-202H:2015 Method 108
1. 薄膜電容、網(wǎng)絡(luò)低通濾波器、網(wǎng)絡(luò)電阻、熱敏電阻、可變電容、可變電阻、陶瓷共鳴器、EMI干擾抑制器、EMI干擾過(guò)濾器：85℃/1000h；
2. 電感、變壓器、電阻：125℃/1000h；
3. 變阻器：150℃/1000h；
4. 鉭電容、陶瓷電容、鋁電解電容：最大額定溫度/1000h。
1. 每個(gè)環(huán)境應(yīng)力測(cè)試項(xiàng)目前后都要進(jìn)行電參數(shù)測(cè)試，特別要求除外。
2. 1000小時(shí)的長(zhǎng)時(shí)間老化測(cè)試會(huì)額外增加250，500，1000小時(shí)幾個(gè)階段。
3. 一般電參數(shù)測(cè)試會(huì)是在室溫狀態(tài)（25±5℃）下進(jìn)行，應(yīng)力測(cè)試完成后24±4小時(shí)內(nèi)進(jìn)行。
4. 電參數(shù)測(cè)試需在客戶(hù)規(guī)格書(shū)中宣稱(chēng)的低溫，室溫，高溫中進(jìn)行測(cè)試。
5. AEC-Q200測(cè)試的接受條件和要求參數(shù)均依據(jù)客戶(hù)規(guī)格書(shū)進(jìn)行判定，所有測(cè)試只接受零失敗。
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