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文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測 發(fā)表時間：2024-01-15 瀏覽數(shù)量：
電解電容是一種常見的電子元件，但它們在使用過程中可能會失效。電解電容的失效原因多種多樣，電解電容不良品電氣特性超差，防爆孔與橡膠蓋處均存在凸起不良。
失效樣品電氣特性：
失效樣品外觀圖片：
失效模式：
電性不良，防爆孔與橡膠蓋凸起。
失效原因：
電解液氣化，造成內部壓力增大而導致防爆孔與橡膠蓋凸起。電性容量偏低，損失角大，泄漏電流無限大，呈現(xiàn)開路狀況。
分析結論：
從失效樣品的DPA拆解分析可以看出，異常返回品素子均有顏色變黑，電解紙與正負鋁箔粘附在一起現(xiàn)象。從此現(xiàn)象可以看出制品應受長期高溫作用下失效所致。由于制品在長期高溫作用下使電解液汽化產生氣體，隨著時間推移正箔與氣體中之水分產生化學反應，在正箔表面生成一種不致密的水和三氧化二鋁將原有的氧化膜覆蓋，加之電解紙也在此種環(huán)境下變質粘附與正負鋁箔表面，使正箔之容量無法引出使用，從而造成此次不良的產生。
優(yōu)科檢測是專業(yè)第三方電子元器件失效分析機構，提供覆蓋被動元件、分立器件和集成電路在內的電子元器件 DPA、FA 失效分析服務，可利用電學、物理和化學等各種分析技術手段，確認電子元器件的失效原因，并提出改進設計和制造工藝的建議，防止失效的重復出現(xiàn)，提高元器件可靠性。
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