文章來(lái)源 : 廣東優(yōu)科檢測(cè) 發(fā)表時(shí)間：2024-05-14 瀏覽數(shù)量：
優(yōu)科檢測(cè)是專(zhuān)業(yè)第三方AEC-Q200測(cè)試機(jī)構(gòu)，實(shí)驗(yàn)室具備AEC-Q200標(biāo)準(zhǔn)CNAS全項(xiàng)檢測(cè)資質(zhì)和CNCA發(fā)證能力，可提供薄膜電容AEC-Q200測(cè)試及AEC-Q200認(rèn)證服務(wù)。
薄膜電容器依據(jù)AEC-Q200 Table 4進(jìn)行測(cè)試，具體測(cè)試項(xiàng)目如下：
| NO. 序號(hào) | Stress 測(cè)試內(nèi)容 | Reference 測(cè)試方法 | Minimum Sample Size Per Lot Depending on Component Size (cm3) | Number of lots 批次 | Accept on Number failed 允許不合格數(shù) | ||||
| 樣品體積 <10cm3 Sample Size Per 測(cè)試樣品數(shù)量 | ≧10cm3 ≦330cm3 | >330cm3 | Individual 單個(gè)型號(hào) | Family 系列 | |||||
| 1 | Pre- and Post-Stress Electrical Test 應(yīng)力測(cè)試前后電氣測(cè)試 | User Specification. 用戶(hù)規(guī)范 | 除非另有規(guī)定，所有認(rèn)證器件 All qualification components unless otherwise specified | 0 Fails | |||||
| 2 | High Temperature Exposure (Storage) 高溫存儲(chǔ) | MIL-STD-202 Method 108 | 77 | 26 | 10 | 1 | 3 | 0 Fails | |
| 3 | Temperature Cycling 溫度循環(huán) | JESD22-A104 | 77 | 26 | 10 | 1 | 3 | 0 Fails | |
| 4 | Humidity Bias 高溫高濕 | MIL-STD-202 Method 103 | 77 | 26 | 10 | 1 | 3 | 0 Fails | |
| 5 | High Temperature Operating Life 高溫工作壽命 | MIL-STD-202 Method 108 | 77 | 26 | 10 | 1 | 3 | 0 Fails | |
| 6 | External Visual 外觀檢查 | MIL-STD-883 Method 2009 | 所有認(rèn)證器件 All qualification parts submitted for testing | 0 Fails | |||||
| 7 | Physical Dimension 尺寸檢查 | JESD22-B100 | 30 | 10 | 4 | 1 | 3 | 0 Fails | |
| 8 | Terminal Strength（THT） 端子強(qiáng)度 | MIL-STD-202 Method 211 | 30 | 10 | 4 | 1 | 3 | 0 Fails | |
| 9 | Resistance to Solvents 耐溶劑測(cè)試 | MIL-STD-202 Method 215 | 5 | 4 | 3 | 1 | 3 | 0 Fails | |
| 10 | Mechanical Shock 機(jī)械沖擊 | MIL-STD-202 Method 213 | 30 | 4 | 3 | 1 | 3 | 0 Fails | |
| 11 | Vibration 振動(dòng) | MIL-STD-202 Method 204 | 30 | 4 | 3 | 1 | 3 | 0 Fails | |
| 12 | Resistance to Soldering Heat 耐焊接熱 | MIL-STD-202 Method 210 | 30 | 4 | 3 | 1 | 3 | 0 Fails | |
| 13 | ESD ESD靜電測(cè)試 | AEC-Q200-002 | 15 | 6 | 3 | 1 | 3 | 0 Fails | |
| 14 | Solderability 可焊性 | J-STD-002 | 15 each condition | 6 | 3 | 1 | 3 | 0 Fails | |
| 15 | Electrical Characterization 電氣特性 | User Specification. | 30 | 10 | 4 | 3 | 3 | 0 Fails | |
| 16 | Flammability 可燃性 | UL 94 or IEC 60695-11-5 | 按照參考標(biāo)準(zhǔn) Present certificate of compliance | 0 Fails | |||||
| 17 | Board Flex (SMD) 板彎曲（貼片） | AEC-Q200-005 | 30 | 10 | 4 | 1 | 3 | 0 Fails | |
| 18 | Terminal Strength (SMD) 引出端強(qiáng)度（貼片） | AEC-Q200-006 | 30 | 10 | 4 | 1 | 3 | 0 Fails | |
無(wú)源器件廠家要進(jìn)入汽車(chē)領(lǐng)域，打入各一級(jí)(Tier1)汽車(chē)電子大廠供應(yīng)鏈，必須取得兩張門(mén)票，第一張是由北美汽車(chē)產(chǎn)業(yè)所推的AEC-Q200(無(wú)源元件)可靠性標(biāo)準(zhǔn)；第二張門(mén)票，則要符合零失效(Zero Defect)的供應(yīng)鏈質(zhì)量管理標(biāo)準(zhǔn)ISO/IATF 16949規(guī)范(Quality Management System)。
對(duì)汽車(chē)廠和一級(jí)供應(yīng)商來(lái)說(shuō)，使用通過(guò)AEC-Q200認(rèn)證的電子元器件風(fēng)險(xiǎn)小，通常會(huì)要求元器件通過(guò)AEC-Q200認(rèn)證；對(duì)電子元器件供應(yīng)商來(lái)說(shuō)，通過(guò)AEC-Q200認(rèn)證，是產(chǎn)品質(zhì)量與可靠性的保證，能夠提高產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)力及溢價(jià)率。
因此，AEC-Q200雖然不是強(qiáng)制性的認(rèn)證制度，但目前已成為公認(rèn)的車(chē)規(guī)無(wú)源器件的通用測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。AEC-Q200認(rèn)證，已成為無(wú)源器件是否適合于汽車(chē)應(yīng)用的一個(gè)標(biāo)志，或者說(shuō)門(mén)檻。
1. 每個(gè)環(huán)境應(yīng)力測(cè)試項(xiàng)目前后都要進(jìn)行電參數(shù)測(cè)試，特別要求除外。
2. 1000小時(shí)的長(zhǎng)時(shí)間老化測(cè)試會(huì)額外增加250，500，1000小時(shí)幾個(gè)階段。
3. 一般電參數(shù)測(cè)試會(huì)是在室溫狀態(tài)（25±5℃）下進(jìn)行，應(yīng)力測(cè)試完成后24±4小時(shí)內(nèi)進(jìn)行。
4. 電參數(shù)測(cè)試需在客戶(hù)規(guī)格書(shū)中宣稱(chēng)的低溫，室溫，高溫中進(jìn)行測(cè)試。
5. AEC-Q測(cè)試的接受條件和要求參數(shù)均依據(jù)客戶(hù)規(guī)格書(shū)進(jìn)行判定，所有測(cè)試只接受零失敗。
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